Técnicas de Espalhamento de Raios X: Teoria e Aplicação

Código: PFIS2021
Curso: Mestrado em Física
Créditos: 4
Carga horária: 60
Ementa:

Propriedade de raios-x. Cristalografia. Difra ção. Rede recíproca. Métodos de Difração. Teoria do Espalhamento. Intensidade de picos de difração. Análise de fases. Cristais reais e ideais. Textura. Difração sob incidência rasante. Aplicações ao magnetismo.

Bibliografia:

B. D. Cullity and S. R. Stock, Elements of X-ray diffraction, Prentice-Hall, Inc., 3rd Ed., New Jersey, 2001. L. V. Azaroff, Elements of X-ray Crystallography, Mc Graw-Hill, 1st Edition, 1968. J.B. Kortright, G. Srajer, J.C. Lang, D. Haskel, Modern techniques for characterizing magnetic materials, edited by Y. Zhu Springer, 2005.