Seminário "Caracterização e quantificação de materiais cristalinos pelo método de refinamento Rietveld de dados de difração de raios X"

Na sexta-feira, 09/08/2013, às 15 h, no auditório do NCQP, teremos o seminário "Caracterização e quantificação de materiais cristalinos pelo método de refinamento Rietveld de dados de difração de raios X", a ser ministrado pelo Prof. Paulo Rogério da Costa Couceiro do Depto. de Química/ICE/UFAM, Manaus - AM. Estão todos convidados.

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